Корзина
Пишите нам: mail@theseuslab.kz
+375 (29) 640-41-26

Микрорентгенофлуоресцентный спектрометр Rigaku ZSX Primus II

  Микрорентгенофлуоресцентный спектрометр Rigaku ZSX Primus II, фото 1
 Микрорентгенофлуоресцентный спектрометр Rigaku ZSX Primus II, фото 2  Микрорентгенофлуоресцентный спектрометр Rigaku ZSX Primus II, фото 3  Микрорентгенофлуоресцентный спектрометр Rigaku ZSX Primus II, фото 4
Под заказ

Цену уточняйте

Написать
  • +375 показать номер +375 (29) 640-41-26
  • Адрес и контакты
    • Телефон:
      +375 (29) 640-41-26
    • Адрес:
      Pobřežní 249/46, Karlín, 186 00 Praha 8, Прага, Казахстан, Чехия
  • Условия возврата и обмена

Описание:

Rigaku ZSX Primus II предоставляет возможность количественного анализа основных и побочных атомных элементов в образце (от бериллия (Be) до урана (U)) в широком диапазоне агрегатных состояний образцов с минимальными требованиями по пробоподготовке. Отличительной чертой Primus II по сравнению с Primus является верхнее расположение рентгеновской трубки.

Верхнее расположение рентгеновской трубки и оптики – выдающаяся достоверность результатов анализа

ZSX Primus II обладает инновационной конфигурацией рентгенооптический системы – ее верхним расположением. Теперь можно не беспокоится о загрязнении рентгенооптического тракта и увеличенном времени обслуживания, характерных для нижнего расположения. Так же, нет необходимости в дополнительных блокировках рентгеновского луча.

Исследование топологии образцов (mapping) и многоточечный анализ легких элементов (Low-Z performance)

Обеспечивая превосходную производительность и гибкость анализа самых сложных образцов, Rigaku ZSX Primus II укомплектован 30 микронной рентгеновской трубкой c верхним расположением рентгеновской оптики, которая является самой малоразмерной трубкой с нижним окном для промышленного и полупромышленного применения, в особенности при исследовании малых концентраций легких элементов (Low-Z performance). Совместно с передовой системой определения топологии образцов (mapping) для идентификации гомогенности материала и малых концентраций примесей, ZSX Primus II легко позволяет детально исследовать объекты, которые иной раз просто невозможно изучить другими стандартными аналитическими методиками. Режим многоточечного анализа (запатентованная технология Rigaku) существенно помогает минимизировать вклад ошибки выборки при аттестации неоднородных материалов.

Программное обеспечение SQX fundamental parameters и EZ-scan

Пакет EZ-scan позволяет пользователям произвести идентификацию образцов с неизвестным составом и структурой без всякой предварительной подготовки. Эта особенность существенно экономит время и требует лишь несколько кликов компьютерной мышкой, а также ввода названия образца с клавиатуры. Совместно с пакетом SQX fundamental parameters, обеспечивается настолько достоверный и быстрый рентгеновский флюоресцентный анализ, насколько это возможно при текущих условиях. SQX способен автоматически исправлять влияние матрицы структуры образца, в том числе перекрытие и «замывание» спектральных пиков. SQX так же может легко корректировать данные на эффекты вторичного возбуждения за счет фотоэлектронов в легких и ультра-легких элементах, в особо сложных случаях предлагая изменить тип атмосферы, размер образца и т.п. Повышенная точность результатов анализа достигается благодаря использованию современных баз данных идентификации структуры и высокоточной системе регистрации спектров.

Особенности спектрометра

  • Возможность анализа элементов от Be до U
  • Небольшая площадь установки сэкономит место в лаборатории
  • Режим микроанализа образцов (вплоть до 500 μm)
  • Верхнее расположение рентгеновской трубки для снижения загрязнений рентгеновской оптики
  • 30μ рентгеновская трубка для высокопроизводительного анализа легких элементов
  • Режим исследования топологии образца (mapping) для идентификации распределения элемента в образце (рельеф/распределение)
  • Гелиевый затвор – рентгеновская оптика всегда в вакууме.

Особенности программного обеспечения (в стандартной поставке)

  • Качественный анализ:
    • Автоматическая идентификация спектрального пика
    • Сглаживание, вычитание фона
  • Количественный анализ:
    • Матричная коррекция : Lachance-Traill, DeJohngh, JIS и т.д.
    • Регрессия линейная, второй и третьей степени
    • Meтод фундаментального параметра
  • EZ scan (качественный анализ)
  • Шаблоны отчетов
  • Автоматический выбор области исследования (определения размера маски)
  • Разложение пика на составляющие (стандартный профиль и с помощью подбора функции)
  • Аппроксимация фона (на основе функции многих переменных)
  • Фиксирование точности анализа как параметра
  • Развернутая помощь пользователю
  • Возможность отправки e-mail
  • Метод стандартных образцов
  • Программа моделирования эксперимента (оценка глубины распределения примеси и т.д.)

Особенности программного обеспечения (опционально)

  • Пакет SQX:
    • EZ scan + SQX
    • Измерения при фиксированных углах
    • Анализ тонкопленочных образцов
    • Теоретическая оценка и коррекция перекрытия пиков
    • База данных по смещению пиков и коррекция смещения
    • Фотоэлектронный метод FP
    • Поправка на He-атмосферу
    • Поправки для пленочных образцов :
      • Поправка на примесь
      • База данных по совпадениям
      • Модуль SQX scatter на основе метода FP
      • Финальная оценка образца
  • Количественная оценка на основе метода FP
  • Количественная теоретическая поправка с использованием FP метода
  • Поправка для сплавов
  • Поправка на зарядку образцов (полупроводники и диэлектрики)
  • Основные функции программы:
    • Анализ по времени
    • Режим энергосбережения
    • Автоматическое отключение
  • Модуль управления и контроля образцами
  • Точечный режим/режим топологии
  • Функция удаленного управления прибором (VCP)

 

Технология

Серия приборов ZSX Primus использует рентгеновскую оптику с волновой дисперсией (WDX). Типичные отличия от энергодисперсионной технологии (EDX) показаны на рисунке ниже.

 

Существенным достоинством приборов серии ZSX также является новая 30 микронная рентгеновская трубка, позволяющая легко выполнять высокочувствительный анализ сверхлегких элементов.

 


Примененная технология Quick Atmosphere Convert (запатентована Rigaku) позволяет быстро менять образец, без напуска воздушной атмосферы в спектрометр, что существенно экономит время измерений. Кроме того, вакуумный тракт укомплектован двойной высокопроизводительной системой откачки, если прибор открывался с напуском воздуха внутрь спектрометра.

 

 

В дополнение к имеющимся у ZSX Primus возможностям, в ZSX Primus II существенно расширен набор кристаллов-анализаторов (данные приведены в таблице), что увеличивает аналитические возможности прибора.

 

 

Улучшена и технология топологической аттестации поверхности образца – теперь пользователь с легкостью может анализировать области на поверхности размером 100 микрон (см. рисунок ниже).

 

 

Хорошо зарекомендовавшие себя технологии в ZSX Primus так же применены и в Primus II : ACWC, EasyCleaning, Flow Bar и т.п. За более детальным разъяснением, пожалуйста, обратитесь к описанию ZSX Primus. Наконец, прибор построен по технологии энергосбережения, которая автоматически снижает мощность рентгеновской трубки, скорость потока водяного охлаждения и газа P-10, когда прибор находится в холостом цикле.

 


Технические характеристики

Основное

Диапазон элементов

4Be - 92U

Оптика

На основе волновой дисперсии , последовательная, с верхним расположением рентгеновской трубки 

 

Рентгеновский источник

Рентгеновская трубка

С нижним расположением окна, Rh-анод, мощность 3kW или 4 kW при 60kV 

Высоковольтная часть

Высокочастотный инвертер, стабильность не хуже чем ±0.005% 

Охлаждение

Встроенный теплообмменник водяного типа

 

Спектрометр

Чейнджер образцов

48 позиционный (в стандартной поставке), с возможностью расширения до 96 (опционально)

Устройство ввода образцов

На основе Automatic Pressure Controller

Максимальный размер образца

51 mm (диаметр) на 30 mm (высота)

Анализируемая область

35 mm (диаметр)

Скорость вращения образца

30 rpm

Первичный рентгеновский фильтр

Al, Ti, Cu и Zr

Коллиматор

Автоматический, 6 - позиционный: 35, 30, 20, 10, 1 и 0.5 mm

Выходная щель

Автоматическая, 3 –позиционная, с режимами разрешения standard, high и course (опционально)

Входная щель

Для детекторов типа SC и F-PC

Гониометр

θ – 2θ с независимым механизмом привода 

Диапазон углов

Для SC-детектора: 5-118°, для F-PC-детектора: 13-148°

Max скорость сканирования

1400°/min (2θ)

Угловая точность

±0.0005°

Непрерывное сканирование

0.1 - 240°/min

Чейнджер кристалла

Автоматический, 10 позиционный

Вакуумная камера

2 высокопроизводительных насоса (адсорбер типа PowderTrap поставляется опционально)

Система продувки He

Опционально, с отражателем

Система стабилизации теммпературы

Характеристики
Основные
Производитель   Rigaku
Страна производитель Япония
Информация для заказа
  • Цена: Цену уточняйте
Отзывы о товаре
Добавить отзыв

Отзывов пока нет, будьте первыми!